鍍層測量分析顯微鏡即鍍層厚度測量金(jīn)相顯微鏡
鍍層厚度測試一般有3種方法。
1. 金(jīn)相法
2. 庫侖法
3. X-ray 方法。
所謂鍍層厚度測試即檢測材料表面的金(jīn)屬和(hé)氧化物覆層的厚度測試。使用(yòng)金(jīn)相法測量時(shí)鍍層測量分析顯微鏡質量的好(hǎo)壞是非常重要的,下(xià)面我們來(lái)談談如何選擇性價比高(gāo)的鍍層厚度測量金(jīn)相顯微鏡。
采用(yòng)金(jīn)相顯微鏡檢測橫斷面,以測量金(jīn)屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大(dà)于1um,才能(néng)保證測量結果在誤差範圍之内;厚度越大(dà),誤差越小(xiǎo)。在選擇鍍層測量金(jīn)相顯微鏡時(shí)選擇一家經驗豐富的顯微鏡廠(chǎng)家很(hěn)重要,因爲這(zhè)樣他(tā)會(huì)給您提供測量使用(yòng)的技術指導,帶上(shàng)測量軟件的成套鍍層測量分析顯微鏡在測量時(shí)會(huì)更加方便,結構更加精準。 GB/T 6462-2005金(jīn)屬和(hé)氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法:由于金(jīn)相法測樣品的厚度爲局部厚度,對(duì)于一些(xiē)厚度不一緻的樣品,需要客戶指定具體部位。如沒有特殊要求,我們将自(zì)行取一個較均勻的部位進行測量。
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